Microscopio infrarrojo
Microscopio DXR3

Su diseño robusto e integrado está específicamente optimizado para proporcionar información molecular detallada e imágenes químicas de la más alta calidad, permitiendo la caracterización no destructiva de una amplia gama de materiales. Una de sus capacidades clave reside en las nuevas funciones de análisis de partículas, que permiten identificar, contar y caracterizar micropartículas y contaminantes de forma automática y rápidamente, resolviendo desafíos críticos en control de pureza y análisis de fallos.

La plataforma garantiza la máxima confiabilidad operativa y precisión científica a través de un sistema de alineación y calibración totalmente automáticas.

Características

Resolución Espacial y Confocal de Alto Rendimiento: Logra una resolución espacial lateral de hasta 540 nm y una resolución de profundidad confocal de 1.7 μm. Esta capacidad permite realizar seccionamiento óptico no destructivo, aislando señales moleculares de capas específicas o estructuras sub-superficiales con una precisión sin precedentes, fundamental para el análisis de composites, recubrimientos multicapa y dispositivos electrónicos.

Adquisición Espectral Completa sin Artefactos: Capacidad de capturar el rango espectral completo (3500-50 cm⁻¹) en una sola exposición del detector CCD. Esta característica elimina los artefactos espectrales resultantes de la unión de segmentos, garantizando la integridad absoluta de los datos, una línea base perfecta y la identificación molecular confiable en cada medición.

Rango Espacial Extendido y Flexibilidad de Láseres: Ofrece un rango espectral ampliado hasta 6000 cm⁻¹ con el láser de 532 nm, ideal para estudiar vibraciones de alto orden. El sistema admite una gama completa de láseres de excitación (455 nm, 532 nm, 633 nm, 785 nm) en configuraciones de alto brillo y alta potencia, lo que proporciona la flexibilidad para seleccionar la fuente ideal y minimizar la fluorescencia inherente a la muestra, optimizando así la señal de Raman en cualquier material.

Corrección Automática de Fluorescencia: La función patentada de corrección automática de fluorescencia, disponible para todos los láseres, permite suprimir eficazmente la fluorescencia de fondo que puede enmascarar las señales de Raman. Esto resuelve uno de los mayores desafíos de la técnica, permitiendo el análisis robusto de muestras biológicas, polímeros impuros o materiales que previamente se consideraban no analizables por Raman.

Ciencias Forenses y Seguridad: Proporciona identificación química no destructiva de evidencias traza, como residuos de explosivos, pigmentos en pinturas, fibras textiles y tintas. Permite la identificación y distinción de drogas ilícitas y sus precursores con alta especificidad, incluso cuando se encuentran en mezclas complejas.

Industria Farmacéutica y Biotecnología: Es fundamental para la identificación y distribución de polimorfos, garantizando la eficacia y estabilidad de los principios activos. Caracteriza de forma rápida y fiable contaminantes particulados y realiza estudios de difusión de fármacos en matrices de liberación controlada.

Materiales Avanzados y Energía: En el sector solar, analiza la cristalinidad del silicio y caracteriza capas y defectos en materiales fotovoltaicos. En nanotecnología, permite la caracterización crítica de grafeno (número de capas, defectos), nanotubos de carbono (CNT) y recubrimientos de carbono tipo diamante (DLC).

Ciencia de Polímeros y Plásticos: Diagnostica la raíz causa de defectos como inclusiones, geles y degradación. Evalúa los efectos de la intemperie y la oxidación, caracteriza la cristalinidad y analiza la composición y homogeneidad de capas de unión en laminados multicapa sin necesidad de separarlas.

Gemología y Materiales Preciosos: Realiza una identificación rápida y precisa de piedras preciosas de color. Distingue de forma inequívoca entre diamantes naturales y sintéticos, y caracteriza inclusiones y tratamientos de mejora, proporcionando un certificado de autenticidad basado en datos científicos.

  • Espectrofotómetros FTIR

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